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肖特基二极管参数有哪些?

时间:2025-06-19 阅读量:30

肖特基二极管(SBD)的参数体系涵盖电气特性、热性能、可靠性及特殊应用需求四大维度,以下是基于技术标准与工程实践的系统化梳理:

一、核心电气参数
正向压降(VF
定义:二极管正向导通时的电压降。
典型值0.2V-0.7V(硅基SBD),SiC SBD可低至0.8V(高压场景)。
影响:直接影响导通损耗,VF每降低0.1V,功耗减少约10%
反向耐压(VRRM
定义:二极管能承受的最大反向电压。
选型原则:需留50%以上余量(如24V电路选VRRM≥40V型号)。
封装关联:高压场景需选DO-214AA/AB封装,避免塑封器件击穿风险。
反向漏电流(IR
定义:反向偏置时流过的微小电流。
典型值μA级(硅基SBD),SiC SBD可低至nA级。
影响IR过大将导致静态功耗增加,精密电路需选IR<1μA型号。
反向恢复时间(trr
定义:二极管从导通到截止所需的恢复时间。
典型值<10nsSBD),远低于快恢复二极管(FRD)的50ns
应用场景:高频开关电源(如100kHz以上)需选trr<35ns型号。
结电容(Cj
定义:二极管PN结的寄生电容。
典型值0.1pF-10pF(随电压升高而降低)。
影响Cj过大将导致高频响应变差,射频电路需选Cj<1pF型号。
二、热性能参数
结温(Tj
定义:二极管PN结的工作温度。
极限值:硅基器件Tj<150℃SiC器件可达175℃
计算方法Tj=Ta+P×θJATa为环境温度,P为功耗,θJA为热阻)。
热阻(θJA
定义:结温与环境温度的温差与功耗的比值。
典型值
SOD-123θJA≈200℃/W
SMA/SMBθJA≈150℃/W
TO-277/D2PAKθJA<50℃/W
选型原则:大功率场景需选低θJA封装,避免过热失效。
三、可靠性参数
寿命(MTBF
定义:平均无故障工作时间。
测试标准:通过HTRB(高温反偏)测试,确认1000小时漏电流变化<5%
典型值:工业级器件MTBF>100万小时。
抗静电能力(ESD
定义:二极管承受静电放电的能力。
测试标准:符合人体模型(HBM2kV/4kV等级。
增强方案:部分型号集成TVS二极管,ESD耐受能力提升10倍。
机械强度
插件封装:优先DO-15(金属-玻璃封装)替代DO-41(塑封),抗振动性能提升3倍。
贴片封装:选带边角加固的型号(如SMCJ系列),避免焊接裂纹。
四、特殊应用参数
汽车级认证(AEC-Q101
要求:通过-55℃150℃温区测试,振动耐受等级达ISO 16750-3标准。
典型型号B340A-13-FMBR20100CT-Q
抗辐射能力
定义:二极管在辐射环境下的稳定性。
测试标准:总剂量辐射(TID>100kRad(Si),单粒子效应(SEE)免疫。
应用场景:卫星电源系统、宇航级传感器。
柔性电子兼容性
技术突破:采用纳米银线与肖特基结复合结构,实现可弯曲二极管(弯曲半径<1mm)。
应用场景:可穿戴设备、柔性显示屏。
五、参数选型决策框架
低压差场景(如LDO):优先选VF<0.3V型号(如BAT54C),关注IRCj平衡。
高频开关场景(如SMPS):选trr<35ns型号(如MBR3045PT),验证封装热阻。
汽车级应用:确认AEC-Q101认证,关注温区与振动耐受性。
特殊环境场景(如航天):验证抗辐射能力与机械强度。
通过以上参数体系,可构建适配不同场景的肖特基二极管选型方案。实际工程中需结合电路仿真与可靠性测试验证,确保参数与需求深度契合。随着SiC材料与集成化技术的发展,肖特基二极管在高温、高频、高功率场景的应用潜力将进一步释放。
 

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